ETI
BRUKER FRANCE
Marchés publics remportés, spécialité et ancrage territorial — données DECP.
Données DECP · dernier marché notifié le 19 mai 2026
BRUKER FRANCE, ETI, a remporté 9 marchés publics référencés dans les Données Essentielles de la Commande Publique (DECP) depuis 2020, pour un montant cumulé de 2,4 M€. Ses marchés portent principalement sur équipements de laboratoire, d'optique et de précision. Son marché le plus récent a été notifié le 19 mai 2026. Les montants, dates et acheteurs affichés proviennent des Données Essentielles de la Commande Publique, publiées sous licence ouverte sur data.gouv.fr.
Type de prestataire
Prestataire diversifié
Intervient sur des secteurs d'activité variés, sans spécialisation dominante — profil généraliste multi-marchés.
Taille
ETI
Tendance 12 mois
+1471.8 %
Spécialité
Équipements de laboratoire, d'optique et de précision
Avec quels acheteurs publics BRUKER FRANCE travaille-t-elle ?
| Acheteur | Marchés |
|---|---|
| SORBONNE UNIVERSITE | 1 marché |
| UNIVERSITE JEAN MONNET SAINT ETIENNE | 1 marché |
Marchés publics gagnés
9
Marchés remportés
2,4 M€
Montant cumulé
3
Secteurs CPV
CPV 38430000 (1)CPV 38000000 (1)CPV 38519650 (1)
Zones d'intervention (7 départements)
Haute-Garonne (2)Rhône (2)Bouches-du-Rhône (1)Loire (1)Paris (1)Meurthe-et-Moselle (1)Essonne (1)
La présente consultation porte sur la fourniture, la livraison, l’installation, la mise en service, la formation et la garantie d’un équipement de transcriptomique spatiale compatible FFPE pour le compte du laboratoire RESTORE-CNRS, selon les spécifications techniques définies dans le Cahier des Clauses Techniques Particulières (CCTP) n°25402.
Acquisition d’une platine d’essais micromécaniques pour la microscopie électronique à balayage environnemental, faite dans le cadre d’un achat de microscope à double faisceau FIB/SEM
Il a pour objet de répondre aux besoins de mesure de morphologie des surfaces pour des applications scientifiques au sein du département DPHY du centre de Toulouse. Le profilomètre sera utilisé pour étudier la modification de la morphologie de surface d’échantillons soumis à des conditions proches de l’environnement spatial rencontré par les satellites (érosion plasma, contamination, dégazage, etc.).
OFF NAT ETUDES RECHERCHES AEROSPATIALES10/12/2025
Acquisition d’un microscope à force atomique IR
Acquisition, livraison, installation, mise en service et formation d’un appareil de Microscopie à Sonde Locale d’occasion récente (microscope à force atomique—AFM, microscope à effet tunnel—STM) spécialement conçu pour être placé sur un microscope optique inversé pour l’ISMO du CNRS.
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